斯皮策多波段成像光度计的绝对定标与特性表征. II. 70微米成像
天体物理学
2010-01-07 v1
摘要
基于超过2.5年的观测，本文给出了斯皮策多波段成像光度计（MIPS）70微米粗视场与精视场成像模式的绝对定标与特性表征。精确的光度测量（特别是对暗源）需要在标准数据规约之外增加两个简单的处理步骤，以去除探测器的长期瞬态效应。研究发现，点扩散函数（PSF）拟合测光比孔径测光给出更准确的通量密度。基于PSF拟合测光，定标因子未表现出与通量密度、背景、光谱型、曝光时间或退火后时间有强烈的依赖趋势。粗视场定标样本包含对恒星的观测，其通量密度从22 mJy到17 Jy，背景从4到26 MJy sr^-1，光谱型从B型到M型。粗视场定标为702 +/- 35 MJy sr^-1 MIPS70^-1（5%不确定度），基于对66颗恒星的测量。MIPS 70微米粗视场与精视场成像模式的仪器单位分别称为MIPS70和MIPS70F。通过在每次MIPS观测期间测量的两颗恒星计算，测光重复性为4.5%，包含了所探测所有时间尺度上的变化。基于10颗恒星，初步的精视场定标因子为2894 +/- 294 MJy sr^-1 MIPS70F^-1（10%不确定度）。粗视场与精视场定标因子的不确定度分别主要由4.5%的测光重复性和小样本量主导。粗视场观测的5倍sigma、500秒灵敏度为6-8 mJy。本工作表明，MIPS 70微米阵列能产生准确且定标良好的测光结果，并验证了MIPS 70微米的运行策略，尤其是使用频繁的激励闪光来追踪Ge:Ga探测器响应度的变化。
引用
@article{arxiv.0704.2196,
title = {Absolute Calibration and Characterization of the Multiband Imaging Photometer for Spitzer. II. 70 micron Imaging},
author = {Karl D. Gordon and Charles W. Engelbracht and Dario Fadda and John Stansberry and Stefanie Wachter and Dave T. Frayer and George Rieke and Alberto Noriega-Crespo and William B. Latter and Erick Young and Gerry Neugebauer and Zoltan Balog and Herve Dole and Eiichi Egami and Dean Hines and Doug Kelly and Francine Marleau and Karl Misselt and Jane Morrison and Pablo Perez-Gonzalez and Jeonghee Rho and Wm. A. Wheaton},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.2196},
year = {2010}
}
备注
19 pages, PASP, in press