用于低温下高通量电学特性表征的可重构多路复用装置
介观与纳米尺度物理
2024-03-29 v1
摘要
本文提出了一种可重构多路复用（MUX）装置，以提高低温下电学特性表征的通量。该装置将 MUX 电路与待测量子器件（qDUT）分离，使得 qDUT 芯片易于更换且 MUX 芯片可重复使用。为与不同类型的 qDUT 接口，引入了板级设计以允许互连线灵活布线至不同拓扑结构。MUX 基于多级选择门控（MLSG）方案构建，其中多路复用输出通道（互连线）的数量指数依赖于控制线的数量。在本文提出的原型装置中，利用从室温引出的 44 根导线中的 14 根，低温下的 4 个 MUX 总共可提供 128 个互连线与 qDUT 接口。我们通过测量由微米级石墨烯带构成的 k 电阻器验证了 MUX 装置的运行，并评估了存在的各种限制。我们进一步在一次降温过程中对 128 个纳米级石墨烯量子器件进行电荷输运测量，展示了该装置的能力。
引用
@article{arxiv.2403.18987,
title = {Reconfigurable multiplex setup for high throughput electrical characterisation at cryogenic temperature},
author = {Xinya Bian and Hannah J Joyce and Charles G Smith and Michael J Kelly and G Andrew D Briggs and Jan A Mol},
journal= {arXiv preprint arXiv:2403.18987},
year = {2024}
}