刻蚀石墨烯纳米带的拉曼光谱研究
介观与纳米尺度物理
2011-05-06 v1
摘要
我们利用共聚焦拉曼光谱研究了宽度从 30 到 130 nm 不等的刻蚀单层石墨烯纳米带。研究表明，D 线强度仅依赖于纳米带的边缘区域，因此制备过程并未引入体缺陷。相比之下，G 线和 2D 线强度与辐照面积成线性关系，从而与纳米带宽度成线性关系。我们进一步指出，D 线与 G 线的强度比可用于获取底层石墨烯晶体学取向的信息。最后，我们进行了偏振角依赖的测量，以分析纳米带的边缘区域。
引用
@article{arxiv.1105.1001,
title = {Raman spectroscopy on etched graphene nanoribbons},
author = {Dominik Bischoff and Johannes Güttinger and Susanne Dröscher and Thomas Ihn and Klaus Ensslin and Christoph Stampfer},
journal= {arXiv preprint arXiv:1105.1001},
year = {2011}
}