C60薄膜中异质体在晶界的耗尽
材料科学
2025-07-02 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
异质体寿命在有机光电子器件的性能中发挥关键作用。在本研究中，我们利用时滞角分辨光子发射谱 (TR-ARPES) 探讨了多个旋转域（因此晶界）对C60/Au(111)薄膜中异质体动力学的影响。我们发现，具有多个旋转域的薄膜表现出较短的异质体寿命，并观察到异质体-异质体湮灭，即使一个域占主导亦然。扫描隧道显微镜 (STM) 测量揭示了晶界处介电常数局部降低导致的电子结构变化，提供了通过异质体引导和其他额外衰减通道导致寿命缩短的机制。这些发现突出了薄膜质量在确定固有异质体寿命中的关键作用，表明即使是几乎无法被统计测量检测到的微小无序，也会显著影响动力学。结果表明，精确的结构控制对于优化有机光电子器件的性能至关重要。
引用
@article{arxiv.2507.00323,
title = {Quenching of excitons at grain boundaries in C60 thin films},
author = {Rysa Greenwood and Bradley G. Guislain and MengXing Na and Alexandra B. Tully and Sergey Zhdanovich and Jerry Icban Dadap and Sydney K. Y. Dufresne and Vanessa King and Jiabin Yu and Giorgio Levy and Arthur K. Mills and Matteo Michiardi and Andrea Damascelli and Sarah A. Burke and David J. Jones},
journal= {arXiv preprint arXiv:2507.00323},
year = {2025}
}
备注
19 pages, 3 figures