GW近似下准粒子能带结构对铜d空穴寿命的影响
强关联电子
2009-11-07 v1 材料科学
摘要
我们在第一性原理近似下研究了铜中d空穴的寿命。在水平下，最高d能带的寿命与实验结果一致，且比文献中常用的“在壳”计算所得结果小四倍。然而，当计算中进一步包含自洽的迭代步骤时，理论寿命与能带结构会变差，这表明自洽性与顶点修正的引入之间存在微妙的相互影响。我们表明，在寿命计算上的成功归因于新的“带内”衰减通道的开启，而这些通道在自洽时消失。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0208575,
title = {Quasiparticle bandstructure effects on the {\it d} hole lifetimes of copper within the GW approximation},
author = {Andrea Marini and Rodolfo Del Sole and Angel Rubio and Giovanni Onida},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0208575},
year = {2009}
}
备注
Accepted for pubblication on Physical Review B, Rapid Communications