铜表面镜像势态寿命

E. V. Chulkov; I. Sarria; V. M. Silkin; J. M. Pitarke; P. M. Echenique

doi:10.1103/PhysRevLett.80.4947

铜表面镜像势态寿命

材料科学 2009-10-31 v1

作者: E. V. Chulkov , I. Sarria , V. M. Silkin , J. M. Pitarke , P. M. Echenique

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摘要

镜像态寿命是探测表面电子态与固体衬底耦合的关键量，最近通过时间分辨双光子光电子发射并结合多个态的相干激发，在Cu(100)上对量子数 $n\le 6$ 的镜像态寿命进行了测定(U. H\"ofer等, Science 277, 1480 (1997))。我们在此报告对铜表面镜像态寿命的理论研究。我们从激发准粒子的自能出发评估寿命，该自能在多体理论的GW近似框架内计算。单粒子波函数通过求解具有现实一维模型势的薛定谔方程获得，屏蔽相互作用在随机相位近似(RPA)下评估。我们的结果与实验测定的衰减时间吻合良好。

关键词

镜像态寿命铜表面 GW近似双光子光电子发射自能

引用

@article{arxiv.cond-mat/9804194,
  title  = {Lifetimes of image-potential states on copper surfaces},
  author = {E. V. Chulkov and I. Sarria and V. M. Silkin and J. M. Pitarke and P. M. Echenique},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9804194},
  year   = {2009}
}

备注

4 pages, 1 figure, to appear in Phys. Rev. Lett

铜表面镜像势态寿命

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关键词

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备注

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