实金属中激热电子的非弹性寿命
材料科学
2009-10-31 v1
摘要
我们报告了对 Cu 和 Al 中激发电子非弹性寿命的第一性描述，这些寿命在多体理论的 GW 近似下计算得到，基于激发准粒子的自能。我们的完整能带计算表明，实际的寿命是局域化、态密度、屏蔽效应以及费米面拓扑结构之间精妙平衡的结果。来自参与电子-电子相互作用屏蔽的 d 电子的主要贡献，使得铜中激发电子的寿命大于等于价电子(4s^1)电子密度下自由电子气中电子的寿命。在铝中，作为无 d 带的简单金属，能带在费米能级以上分裂，导致电子寿命小于等于自由电子气中电子的寿命。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9907490,
title = {Inelastic lifetimes of hot electrons in real metals},
author = {I. Campillo and J. M. Pitarke and A. Rubio and E. Zarate and P. M. Echenique},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9907490},
year = {2009}
}
备注
4 papes, 2 figures, to appear in Phys. Rev. Lett