Si(111)-3x2-Sm 表面结构的定量 LEED I-V 与从头算研究及 3x1 衍射图中缺失的半级衍射斑
材料科学
2009-11-13 v1
摘要
我们利用低能电子衍射 (LEED) I-V 分析和从头算方法，定量确定了 Si(111)-3x2-Sm 表面的蜂窝链模型结构。该结构以及类似的 3x1 重构已在 Si(111) 表面的许多碱土金属和稀土金属上观察到。我们的从头算计算表明，单胞中 Sm 原子有两个几乎简并的位置，而 LEED I-V 分析揭示，以略微偏向能量较低位置的比例混合这两个位置，与实验匹配得最好。我们证明，I-V 曲线对 Sm 原子的存在不敏感，这导致半级衍射斑的强度非常低，或许可以解释为何所有具有 3x2 单胞的结构都呈现出 3x1 的 LEED 图样。
引用
@article{arxiv.0704.1419,
title = {Quantitative LEED I-V and ab initio study of the Si(111)-3x2-Sm surface structure and the missing half order spots in the 3x1 diffraction pattern},
author = {C. Eames and M. I. J. Probert and S. P. Tear},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.1419},
year = {2009}
}
备注
10 pages, 13 figures. Preliminary work presented at the the APS March meeting, Baltimore MD, 2006. To be published in Phys. Rev. B. April/May 2007