利用低能电子显微镜量化功函数差异：以混合终止钛酸锶为例
材料科学
2019-05-02 v1
摘要
对于许多应用而言，以高横向分辨率测量表面的局域功函数十分重要。低能电子显微镜常为此目的而被使用，因为原则上它非常适用，因其将高分辨率成像与对局域静电势的高灵敏度相结合。然而，对于具有不同功函数区域的表面，与功函数不连续必然相关的横向静电场会使低能电子偏转，从而在这些不连续附近造成伪影。我们利用射线追踪模拟表明，这些伪影延伸数百纳米，并且若使用标准图像分析方法，会使不连续附近真实功函数差异被高估 1.6 倍。我们在混合终止钛酸锶表面上证明，将 LEEM 数据与详细射线追踪模拟相比较，可对功函数差异给出更稳健的估计。
引用
@article{arxiv.1812.06014,
title = {Quantifying work function differences using low-energy electron microscopy: the case of mixed-terminated strontium titanate},
author = {Johannes Jobst and Laurens M. Boers and Chunhai Yin and Jan Aarts and Rudolf M. Tromp and Sense Jan van der Molen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1812.06014},
year = {2019}
}