低能电子显微术作为分析自组装分子层面上的工具
介观与纳米尺度物理
2025-07-16 v1
摘要
低能电子显微术(LEEM)是一种主要在真空环境下工作的表面科学方法。它提供的信息补充于其他已建立技术：它将扫描探针显微术从纳米尺度扩展到微米尺度，测量时间缩短到数十毫秒，使能够可视化样品处理期间的变化，如退火、沉积和气体或光照暴露。从结构分析角度看，它允许从直径小于200纳米的区域测量衍射图样，并通过暗场显微术或LEEM-I(V)指纹成像表面相分布。高级模式提供局部角分辨光照子谱和表面电势分布。在本综述中，我们旨在描述LEEM用于研究固体表面自组装分子结构的利用。我们以教程方式呈现LEEM仪器和测量数据分析，为进入该领域提供必要的背景知识。在第二部分，我们总结了LEEM用于几个选定系统获得的知识，指出LEEM在理解自组装分子系统方面的优势以及与其他表面科学技术的协同作用。
引用
@article{arxiv.2503.24174,
title = {Low-energy electron microscopy as a tool for analysis of self-assembled molecular layers on surfaces},
author = {Jan Čechal and Pavel Procházka},
journal= {arXiv preprint arXiv:2503.24174},
year = {2025}
}