透射电子显微镜中的超快电子能量损失谱
应用物理
2019-09-24 v1 材料科学
强关联电子
摘要
在寻求对材料结构与功能进行动态多模态探测的过程中，利用电子能量损失谱（EELS）等元素特异且结构敏感的工具在原子和纳米尺度上量化化学态至关重要。结合能量、时间和空间分辨率的透射电子显微镜中的超快 EELS，近来实现了对光激发纳米结构演化及倏逝电磁场成像的变革性研究。本文旨在描述这一新兴领域中最先进的实验技术及其主要用途和未来应用。
引用
@article{arxiv.1909.09950,
title = {Ultrafast electron energy-loss spectroscopy in transmission electron microscopy},
author = {Enrico Pomarico and Ye-Jin Kim and F. Javier García de Abajo and Oh-Hoon Kwon and Fabrizio Carbone and Renske M. van der Veen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.09950},
year = {2019}
}