透射电镜中的同步辐射源：高能区空间分辨精细结构谱
材料科学
2019-09-16 v1
摘要
核心电子激发谱的精细结构分析是物理科学中基础的表征技术。谱最常用同步辐射和微米到毫米尺度的X射线光斑测量。另一种方法是在（扫描）透射电子显微镜（(S)TEM）中的电子能量损失谱（EELS），其空间分辨率提高超过1000倍，这对纳米结构材料研究是具有变革性的优势。然而，EELS的适用性通常限于约2 keV以下的激发，即主要限于元素周期表前三行的元素。这里，我们使用最先进的EELS仪器，展示了前所未有的达到12 keV的纳米分辨精细结构EELS测量，其信噪比可与同步辐射媲美。我们在示例实验中展示了该技术的优势。
引用
@article{arxiv.1909.06323,
title = {A Synchrotron in the TEM: Spatially Resolved Fine Structure Spectra at High Energies},
author = {James L Hart and Andrew C Lang and Yuanyuan Li and Kanit Hantanasirisakul and Anatoly I Frenkel and Mitra L Taheri},
journal= {arXiv preprint arXiv:1909.06323},
year = {2019}
}