大尺度结构的位置依赖功率谱：一种测量挤压极限双谱的新方法

大尺度密度涨落对小尺度结构形成的影响由所谓的“挤压构型”下的三点相关函数（双谱）描述，其中其中一个波数（如 $k_3$）远小于另外两个，即 $k_3\ll k_1\approx k_2$。该双谱由非线性引力演化产生，也可能源于暴胀物理。在本文中，我们利用这一事实表明，无需使用三点函数估计器即可测量挤压构型下的双谱。具体而言，我们使用“位置依赖功率谱”，即在巡天（或模拟盒）的较小子体积中测量的功率谱，并将其与相应子体积的平均过密度进行关联。这种关联直接测量了由挤压构型主导的双谱积分。测量这种关联的复杂度仅略高于测量功率谱本身，从而避开了完整双谱估计的相当复杂性。我们使用具有高斯初始条件的无碰撞粒子宇宙学 $N$-body 模拟表明，测得的位置依赖功率谱与长波过密度之间的关联与理论预期一致。因此，位置依赖功率谱为从星系红移巡天等大尺度结构观测中测量挤压极限双谱提供了一种新的、高效且有前景的方法。