声子软化：洞察动态条纹相的“钥匙孔”
强关联电子
2007-05-23 v2 超导电性
摘要
本文分别针对欠掺杂铜氧化物静态和动态条纹相模型，计算了声子自能对波矢的高度独特的依赖关系。在存在与欠掺杂铜氧化物相关的充分分离的条纹时，条纹上空穴极化环的实部负值导致局域振动态的出现。这些局域模式劈裂至裸光学声子频率之下，表现出强烈的“软化效应”。计算得到的局域声子频率与传播声子频率之间的能隙实际上与掺杂无关，这与最近的非弹性中子散射测量结果一致。当考虑条纹蜿蜒效应时，推导出的声子软化的波矢依赖关系与高温超导铜氧化物中异常平缓的实验曲线吻合良好。理论曲线与实验曲线的共中心化揭示了条纹上空穴的统计特征。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0507294,
title = {Phonon softening: "keyhole" into dynamic stripe-phase},
author = {Sergei I. Mukhin},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0507294},
year = {2007}
}
备注
12 pages, 4 figures, submitted to Physical Review B (May 2005), added references