拓扑相变附近的声子软化
材料科学
2021-01-04 v2
摘要
拓扑相变发生在电子能带改变其拓扑性质时，通常以能带隙闭合为特征。尽管拓扑相变对电子和光学性质的影响已被广泛研究，但其对声子性质和热输运的启示仍未被探索。在这项工作中，我们使用第一性原理模拟表明，某些声子模式在拓扑相变附近显著软化，导致声子-声子散射增强和晶格热导率降低。我们利用两个模型系统证明了这一效应：rm ZrTe_5 中压力诱导的拓扑相变和 rm{Hg_{1-x}Cd_{x}Te} 中化学成分诱导的拓扑相变。我们将声子软化归因于与能带隙闭合相关的涌现 Kohn 反常。我们的研究揭示了电子能带结构与晶格不稳定性之间的强关联，并为控制固体中的热传导开辟了一个潜在方向。
引用
@article{arxiv.2001.10124,
title = {Phonon softening near topological phase transitions},
author = {Shengying Yue and Bowen Deng and Yanming Liu and Yujie Quan and Runqing Yang and Bolin Liao},
journal= {arXiv preprint arXiv:2001.10124},
year = {2021}
}
备注
8 pages, 5 figures. Comments are welcome