利用相干 X 射线揭示层状生长过程中岛状排列的持续性
材料科学
2020-07-07 v1
摘要
理解外延薄膜生长过程中的表面动力学是生长具有可控性质的高质量材料的关键。利用相干 X 射线的 X 射线光子关联光谱（XPCS）为原位观测晶体生长过程中的原子尺度涨落动力学提供了新机遇。在此，我们展示了首个在层状模式同质外延生长过程中 2D 岛动力学的 XPCS 测量。利用双时间关联对结果的分析揭示了一种新现象——连续晶层上岛成核位点的记忆效应。模拟表明，这种岛状排列的持续性源于不同层上岛之间通过吸附原子进行的通信。随着全球范围内新型相干 X 射线光源的出现，此处开创的 XPCS 方法将广泛适用于表面上的原子尺度过程。
引用
@article{arxiv.1804.08161,
title = {Persistence of Island Arrangements During Layer-by-Layer Growth Revealed Using Coherent X-rays},
author = {Guangxu Ju and Dongwei Xu and Matthew J. Highland and Carol Thompson and Hua Zhou and Jeffrey A. Eastman and Paul H. Fuoss and Peter Zapol and Hyunjung Kim and G. Brian Stephenson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1804.08161},
year = {2020}
}
备注
13 page, 5 figures, also note additional supplementary document of 10 pages, 7 figures