YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$薄膜中的氧掺入：表面激活与退化
超导电性
2025-11-05 v1
摘要
氧的非化学计量比对超导氧化物的物理性质起着关键作用。然而，对于氧后退火处理过程中氧掺入的基本过程及相关现象，目前仍缺乏了解。在此，我们采用电学探针（和电导弛豫(ECR)测量）来更好地理解外延YBaCuO (YBCO)薄膜中氧还原反应(ORR)的动力学。我们确定了氧掺入起始温度的一个新指标，并首次报道了裸露YBCO中剧烈的动力学失活现象。我们证明，使用银微岛进行表面修饰既能催化激活氧掺入，又能绕过表面退化过程。我们的结果表明，所研究的YBCO样品中的ORR受限于表面反应。此外，还识别出形成扩展体缺陷的微弱XRD特征，在设计最佳氧处理以获得性能最优的超导YBCO时，必须考虑这些缺陷。
引用
@article{arxiv.2508.09588,
title = {Oxygen incorporation in YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ thin films: surface activation and degradation},
author = {Alexander Stangl and Xavier Obradors and Anna Palau and Arnaud Badel and Teresa Puig},
journal= {arXiv preprint arXiv:2508.09588},
year = {2025}
}