光电子能谱仪中X射线入射角的优化
仪器与探测器
2012-12-18 v1 材料科学
摘要
在光电子发射过程中，角度依赖的X射线反射率与吸收同光电子衰减长度的相互作用决定了使光电子信号最大化的最优X射线入射角。在从真空紫外到硬X射线的宽能量范围内的计算表明，最优入射角随能量增加而逐渐变得更掠入，从50 eV时的几十度减小到3.5 keV时约一度，同时只要样品上的X射线足迹保持在分析器视场内，强度增益可增至数十倍。这一趋势在很大程度上与材料无关。所得结果对（基于同步辐射的）光电子能谱仪的设计具有直接指导意义。
引用
@article{arxiv.1212.3819,
title = {Optimization of the X-ray incidence angle in photoelectron spectrometers},
author = {Vladimir N. Strocov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1212.3819},
year = {2012}
}
备注
6 pages, 3 figures