基于光电效应的天文 X 射线极化测量：微孔探测器
天体物理学
2009-10-31 v1
摘要
X 射线光子的极化可通过测量 K 壳光电子辐射方向来确定。若能有效地在 10 keV 以下能量范围内利用这一效应，将有望发展出专为 X 射线天文观测而设计的高灵敏度 X 射线极化计。只有随着细分段气体探测器的出现，才有可能在该能量范围内检测基于光电效应的极化灵敏度。利用微孔气体计数器，在 5.4 keV 和 8.04 keV 能量处进行了针对偏振源和非偏振源的仿真与测量，结果显示 K 壳光电子轨迹保留了入射光子极化的信息。本文考虑了针对银河/外星系源和日冕的可能实验，并计算了其对这些源的灵敏度。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0012183,
title = {Astronomical x-ray polarimetry based on photoelectric effect with microgap detectors},
author = {Paolo Soffitta and Enrico Costa and Giuseppe di Persio and Ennio Morelli and Alda Rubini and Ronaldo Bellazzini and Alessandro Brez and Renzo Raffo and Gloria Spandre and David Joy},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0012183},
year = {2009}
}
备注
45 pages included 13 figures; (Accepted for publication in : Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A)