叠层成像探测器对硬X射线极化的灵敏度
天体物理仪器与方法
2015-06-04 v1
摘要
多层光学技术的发展使得聚焦高达100 keV及更高能量的光子成为可能，有望在硬X射线能段实现灵敏度的巨大飞跃。这项技术已计划被未来的致力于>10 keV能量下光谱学和成像任务所采用，例如Astro-H和NuSTAR。然而，同时进行极化测量将极大地增进我们对硬X射线天空的理解，因为硬谱尾的研究与极化发射的研究通常是同一非热和加速过程的两种互补诊断手段。在几十keV以上的能量，探测极化的首选技术涉及在Compton散射后确定光子方向。许多作者断言，具有成像能力的叠层探测器可用于此目的。如果能够甄别出那些最初在第一个探测器中发生Compton散射随后被第二层吸收的事件，就可以从两个探测器的击中像素中确定散射方向。在本文中，我们首次详细讨论了此类通用设计对X射线极化的灵敏度。从仪器的几何结构解析计算了效率和调制因子，然后将其与通过Geant4 Monte Carlo模拟导出的性能进行了比较。
引用
@article{arxiv.1204.0681,
title = {Sensitivity of stacked imaging detectors to hard X-ray polarization},
author = {Fabio Muleri and Riccardo Campana},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.0681},
year = {2015}
}
备注
14 pages, 11 figures. Accepted for publication in ApJ