关于拓扑缺陷诱导的宇宙微波背景涨落的统计性质
高能物理 - 唯象学
2010-11-01 v1 天体物理学
摘要
我们使用参考文献 [\cite{lp92}] 中最近提出的解析模型，研究由拓扑缺陷诱导的宇宙微波背景（CMB）温度涨落的统计性质。研究了宇宙弦和纹理两种情况。我们解析地推导了 δT/T 概率分布的特征函数，并利用它获得了包括偏度和峰度在内的最低十二阶矩。还得到了分布函数，并与高斯分布进行了比较，从而识别出长的非高斯尾部。我们表明，对于宇宙弦和纹理，所有奇数阶矩（包括偏度）都为零，而偶数阶矩相对于高斯的相对偏差随矩的阶数增加而增大。纹理的非高斯特征，从分布函数和矩中得出，被发现比弦的相应特征显著得多。我们讨论了这一结果的物理起源。
引用
@article{arxiv.hep-ph/9212228,
title = {On the Statistics of CMB Fluctuations Induced by Topological Defects},
author = {Leandros Perivolaropoulos},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ph/9212228},
year = {2010}
}
备注
18 pages plus 7 figures (available upon request), submitted to Phys. Rev. D, use latex