微波背景辐射中的因果性、随机性
天体物理学
2010-04-08 v4
摘要
正在以越来越高的精度研究宇宙微波背景（CMB）温度的涨落。两种可能描述这些涨落来源的理论类型：“膨胀”和“缺陷”。这里我们展示了在标准重组合历史的假设下，这两种情景在小尺度上的微波涨落中会产生显著的特征签名，这应该能够通过对 CMB 各向异性的高分辨率测量来区分这两大类理论，独立于每个具体情景的细节。
引用
@article{arxiv.astro-ph/9505030,
title = {Causality, randomness, and the microwave background},
author = {Andreas Albrecht and David Coulson and Pedro Ferreira and Joao Magueijo},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/9505030},
year = {2010}
}
备注
uuencoded tex file and 4 postscript figure files, 8 pages. Also available at http://euclid.tp.ph/Papers/index.html; Changes: Minor changes reflect final published version