高温铜氧化物超导体中空穴浓度的定量测定

我们比较了四种用于确定高温铜氧化物超导体中空穴浓度的空穴标度。我们表明，基于热电功率的空穴标度（$P_{pl}$ 标度）[T. Honma $et$ $al$., Phys. Rev. B70, (2004) 214517.] 在许多不同的铜氧化物材料中与光谱探针在定量上一致，而其他基于众所周知的穹顶状 $T_c$ 曲线 [M. R. Presland $et$ $al$., Physica C176, 95 (1991)]、$c$ 轴晶格参数 [R. Liang $et$ $al$., Phys. Rev. B73, (2006) 180505(R).] 和霍尔系数 [Y. Ando $et$ $al$., Phys. Rev. B61, (2000) 14956(R).] 的空穴标度则不一致。我们表明，定量上不同的空穴标度导致了对相同实验观测结果的相反结论。当比较不同高-$T_c$ 系统中的不同物理性质时，这也可能导致对电子相图的不同解释。我们建议 $P_{pl}$ 标度是适用于所有高-$T_c$ 铜氧化物的正确普适标度，应用于所有铜氧化物的定量掺杂依赖性研究。