KMgBi中多重类型狄拉克半金属相临界态的观测

D. F. Liu; L. Y. W; C. C. Le; H. Y. Wang; X. Zhang; N. Kumar; C. Shekhar; N. B. M. Schröter; Y. W. Li; D. Pei; L. X. Xu; P. Dudin; T. K. Kim; C. Cacho; J. Fujii; I. Vobornik; M. X. W; L. X. Yang; Z. K. Liu; Y. F. Guo; J. P. Hu; C. Felser; S. S. P. Parkin; Y. L. Chen

doi:10.1063/5.0045466

KMgBi中多重类型狄拉克半金属相临界态的观测

材料科学 2021-06-21 v1

作者: D. F. Liu , L. Y. W , C. C. Le , H. Y. Wang , X. Zhang , N. Kumar , C. Shekhar , N. B. M. Schröter , Y. W. Li , D. Pei , L. X. Xu , P. Dudin , T. K. Kim , C. Cacho , J. Fujii , I. Vobornik , M. X. W , L. X. Yang , Z. K. Liu , Y. F. Guo , J. P. Hu , C. Felser , S. S. P. Parkin , Y. L. Chen

在 arXiv 上查看 ↗ PDF ↗ DOI ↗

摘要

狄拉克半金属(DSMs)根据狄拉克费米子的类型被分为不同相。在单一体系中调控不同类型狄拉克费米子之间的转变仍具挑战性。近来，KMgBi被预测处于一种临界态，由于平带的存在，可诱导出多种类型的狄拉克费米子。在此，我们结合角分辨光电子能谱(ARPES)与扫描隧道显微镜/谱(STM/STS)对KMgBi单晶的电子结构进行了系统研究。在费米能级附近清晰观测到平带。我们还揭示了平带与导带之间约20 meV的小带隙。这些结果证明了KMgBi的临界态，即各类狄拉克费米子之间的转变可在单一体系中调控。

关键词

狄拉克半金属临界态平带 KMgBi 角分辨光电子能谱扫描隧道显微镜/谱带隙

引用

@article{arxiv.2106.10250,
  title  = {Observation of the Critical State to Multiple-Type Dirac Semimetal Phases in KMgBi},
  author = {D. F. Liu and L. Y. W and C. C. Le and H. Y. Wang and X. Zhang and N. Kumar and C. Shekhar and N. B. M. Schröter and Y. W. Li and D. Pei and L. X. Xu and P. Dudin and T. K. Kim and C. Cacho and J. Fujii and I. Vobornik and M. X. W and L. X. Yang and Z. K. Liu and Y. F. Guo and J. P. Hu and C. Felser and S. S. P. Parkin and Y. L. Chen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2106.10250},
  year   = {2021}
}

备注

15 pages, 4 figures

KMgBi中多重类型狄拉克半金属相临界态的观测

摘要

关键词

引用

备注

相关论文