在 $\mathbb{Z}$ 类高阶拓扑电路中对大数目角模的观测

拓扑角态是一种奇特的拓扑边界态，即使系统维数大于一，它也被束缚于零维几何中。作为优雅的物理对应，其数目由体拓扑不变量决定。迄今为止，所有先前对高阶拓扑绝缘体（HOTI）的实现都以 $\mathbb{Z}_2$ 拓扑不变量为标志，因而每个角上仅有一个角态。本文报道了在电路中 $\mathbb{Z}$ 类 HOTI 相的实验演示，其在每个单一角结构上承载 $N$ 个角模。通过测量阻抗谱与分布，我们清晰地展示了 $\mathbb{Z}$ 类 HOTI 相，包括零能角模及其密度分布。此外，我们揭示对于 $N=4$ 时每个角的局域态密度（LDOS）均匀分布于四个角元胞，明显不同于 $\mathbb{Z}_2$ 类情形中 LDOS 仅主导于一个角元胞。我们的结果将 HOTI 的观测从 $\mathbb{Z}_2$ 类扩展至 $\mathbb{Z}$ 类，并实现了空间重叠的大量角模的共存，这可能催生需要高简并边界态的奇特拓扑器件。