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关联驱动金属-绝缘体相变附近电子与声子热浴解耦的观测

强关联电子 2020-11-06 v2

摘要

我们观测到,在Mott相变附近的小温度范围内,慢弛豫的主导地位导致电子与热浴解耦。这由对Mott体系NdNiO3NdNiO_{3}薄膜中热噪声在相变附近偏离4kBTR4k_{B}TR的规范Johnson-Nyquist值的大偏离观测所确立。我们认为,如此大的噪声源于绝缘相内尺寸估计为\sim15-20 nm的纳米尺度金属相孤立小口袋,其以充电能量为控制参数。

关键词

引用

@article{arxiv.2007.07067,
  title  = {Observation of decoupling of electrons from phonon bath close to a correlation driven metal-insulator transition},
  author = {Sudipta Chatterjee and Ravindra Singh Bisht and V. R. Reddy and A. K. Raychaudhuri},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2007.07067},
  year   = {2020}
}

备注

27 pages with Supplementary, In revised version discussion updated, New references