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由散粒噪声确定的单壁碳纳米管中的电声耦合

介观与纳米尺度物理 2011-04-22 v1

摘要

我们测量了长度为 L=1 μ\mum 的金属型单壁碳纳米管中的散粒噪声,并发现噪声随电压增加而受到强烈抑制。我们得出结论,在中等偏压下(20 mV << \vv \lesssim 200 mV),温度分别为 TeT_eTphT_{ph} 的电子和声子热库的耦合由热流方程 P=ΣL(Te3Tph3)P=\Sigma L (T_e^3-T_{ph}^3) 描述,其中由于电子与声学声子的相互作用,Σ3109\Sigma \sim 3 \cdot 10^{-9} W/mK3^3;而在更高电压下,光学声子与电子的相互作用导致 P=κopL[N(Te)N(Tph)]P =\kappa_{op} L [N (T_e)-N(T_{ph})],其中 N(T)=1/(exp(Ω/kBT)1)N(T)= 1/(\exp(\hbar\Omega/k_BT)-1),光学声子能量为 Ω\hbar \Omegaκop=2102\kappa_{op}=2 \cdot 10^{2} W/m。

关键词

引用

@article{arxiv.1009.0811,
  title  = {Electron-phonon coupling in single walled carbon nanotubes determined by shot noise},
  author = {Fan Wu and Pauli Virtanen and Soren Andresen and Bernard Placais and Pertti Hakonen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1009.0811},
  year   = {2011}
}

备注

9 pages, 3 figures