双壁碳纳米管中电子 - 声子耦合强度的电子温度依赖性

我们应用时间分辨双光子光电子能谱探测了双壁碳纳米管中的电子 - 声子 (e-ph) 耦合强度。当$T_e > \Theta_{\text{Debye}}$时，从电子系统到晶格的 e-ph 能量转移率$G(T_e, T_l)$线性依赖于电子温度 ($T_e$) 和晶格温度 ($T_l$)。此外，我们数值求解了双温模型。我们发现：(i) $T_e$以 3.5 ps 的时间常数衰减，而$T_l$无显著变化；(ii) e-ph 耦合因子为$2\times10^{16}$ W/m$^3$；(iii) 质量增强参数$\lambda$为$(5.4\pm 0.9)\times10^{-4}$；(iv) 电子能量密度向晶格衰减的时间为$1.34\pm0.85$ ps。