基于CMOS探测器电荷分布的软X射线噪声判别方法
天体物理仪器与方法
2023-11-15 v1 仪器与探测器
摘要
互补金属氧化物半导体(CMOS)传感器由于近年来的发展和独特优势，已作为软X射线探测器在多个领域得到广泛应用。CMOS探测器的参数已被广泛研究和评估。然而，在某些领域中关键参数信噪比尚未得到充分研究。在本研究中，我们分析了CMOS探测器GSENSE2020BSI的电荷分布，并提出了一种根据电荷分布判别信号的二维分割方法。定性评估了二维分割方法对GSENSE2020BSI探测器的影响。针对G2020BSI研究了二维分割方法中所用的最优特征参数。不过，二维分割方法对特征参数不敏感。
引用
@article{arxiv.2311.07844,
title = {Noise discrimination method based on charge distribution of CMOS detectors for soft X-ray},
author = {Xinchao Fang and Jirong Cang and Qiong Wu and Hua Feng and Ming Zeng},
journal= {arXiv preprint arXiv:2311.07844},
year = {2023}
}
备注
19 pages, 13 figures, submitted to NIM-A