外延生长中噪声辅助的丘状粗化
材料科学
2009-10-30 v1 统计力学
摘要
我们提出沉积噪声是不稳定薄膜外延生长中的一个重要因素。我们的分析给出了典型丘高 W、丘尺寸 L 与膜厚 H 之间的几何关系 H=(RWL)^2。实际系统的模拟表明参数 R 是生长条件的特征量，通常位于 0.2-0.7 范围。R 在后阶段粗化中的恒定给出了粗化指数 1/z 与丘高指数 \beta 之间的标度关系，在丘斜率饱和的情况下给出 \beta = 1/z = 1/4。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9703056,
title = {Noise-assisted Mound Coarsening in Epitaxial Growth},
author = {L. -H. Tang and P. Smilauer and D. D. Vvedensky},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9703056},
year = {2009}
}
备注
4 pages, RevTex Macros, 3 eps figures