基于边缘照明的中子暗场成像
仪器与探测器
2020-06-23 v1
摘要
我们报道了一种能够实现中子暗场成像的边缘照明装置，其中使用两个振幅调制器来调制并随后分析中子束。调制器和分析仪是通过激光烧蚀易得的薄金属箔制成的。通过对可见度超过80%的强度调制函数建立卷积模型并进行数值反演，提取出样品的透射和暗场对比度表示。我们展示了两个测试样品，以说明暗场对比度如何补充更常规的中子射线照相术，特别是用于研究材料的微观结构。得益于装置的简单性、对相干性要求的可忽略性以及该方法的稳健性，这种方法可应用于多对比度中子射线照相术和断层扫描术。
引用
@article{arxiv.2006.12171,
title = {Neutron Dark-Field Imaging with Edge Illumination},
author = {Marco Endrizzi and Gibril K. Kallon and Triestino Minniti and Rolf Broennimann and Alessandro Olivo},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.12171},
year = {2020}
}