用于空间分辨小角中子散射的白光远场中子干涉仪的演示
仪器与探测器
2016-06-10 v1
摘要
我们首次演示了中子远场干涉仪可用于测量样品的微观结构。该干涉仪基于两个相位调制光栅的莫尔条纹，此前已在硬 X 射线和可见光实验中实现。该干涉仪的自相关长度（即所探测的微观结构长度尺度）与光栅间距和中子波长成正比，并且对于一对光栅可以在几个数量级范围内变化。我们将单分散样品的可见度变化测量结果与计算结果进行了比较，结果显示出合理的一致性。远场中子干涉仪的潜在优势包括在多色光束中具有高条纹可见度（超过 30%）、不需要吸收光栅来分辨干涉条纹，以及通过在宽波长范围内改变光栅间距或中子波长，使用单一光栅组即可测量 100 nm 至 10 m 长度尺度范围内的微观结构。
引用
@article{arxiv.1606.03054,
title = {Demonstration of a white beam far-field neutron interferometer for spatially resolved small angle neutron scattering},
author = {Daniel S. Hussey and Houxun Miao and Guangcui Yuan and Dmitry Pushin and Dusan Sarenac and Michael G. Huber and David L. Jacobson and Jacob M. LaManna and Han Wen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1606.03054},
year = {2016}
}