用三参数子晕丰度匹配模拟0.2<z<1.0的BOSS与eBOSS亮红星系

子晕丰度匹配（SHAM）是一种基于高分辨率$N$体模拟构建星系星表的经验方法。我们将SHAM应用于UNIT模拟，以在$0.2 < z < 1.0$的宽红移范围内模拟SDSS BOSS/eBOSS亮红星系（LRGs）。除典型的SHAM散射参数$\sigma$外，我们引入$v_{\rm smear}$与$V_{\rm ceil}$分别考虑红移不确定性与星系不完整度。这两个附加参数对重现5--25$\,h^{-1}\,{\rm Mpc}$上观测到的2PCF多极矩至关重要。由最佳拟合$v_{\rm smear}$得到的红移不确定度与除LOWZ样本外所有SDSS LRGs的重复观测结果一致。我们探究了若干潜在系统误差，但均无法解释LOWZ中的偏差。我们的解释是LOWZ星系可能包含另一类需区别对待的星系。测得的$\sigma$与$V_{\rm ceil}$的演化还揭示eBOSS星系的不完整度随红移降低，这是eBOSS LRG选源中施加星等下限所致。在完整星系样本下，我们的SHAM还对星系—晕关系的本征散射给出上限：LOWZ在$0.2<z<0.33$时$\sigma_{\rm int}<0.31$，LOWZ在$0.33<z<0.43$时$\sigma_{\rm int}<0.36$，CMASS在$0.43<z<0.51$时$\sigma_{\rm int}<0.46$。我们SHAM星系的投影2PCF在2PCF拟合区间上也与观测一致。