用于过渡边缘传感器X射线微热量计的铋吸收体微观结构分析
仪器与探测器
2018-04-18 v1
摘要
过渡边缘传感器（TESs）作为微热量计因其尖锐的响应和低工作温度而具有高分辨能力。在硬X射线及以上能区，对高量子效率的需求要求使用吸收体。铋（Bi）因其低热载流子密度和高X射线阻止本领，已被广泛用作TESs的吸收体材料。然而，通过蒸发与电镀沉积的Bi吸收体观察到了不同的能谱响应。蒸发的Bi吸收体普遍在测得能谱的低能侧出现非高斯拖尾。在本研究中，我们通过这两种方法制备了Bi吸收体，并利用扫描电子显微镜（SEM）和X射线衍射显微镜进行了微观结构分析。两类材料显示出相同的晶体结构，但蒸发Bi的晶粒尺寸约为电镀Bi的1/40。这种晶粒尺寸的差异很可能是其不同能谱响应的原因。
引用
@article{arxiv.1711.02215,
title = {Microstructure analysis of bismuth absorbers for transition-edge sensor X-ray microcalorimeters},
author = {Daikang Yan and Ralu Divan and Lisa M. Gades and Peter Kenesei and Timothy J. Madden and Antonino Miceli and Jun-Sang Park and Umeshkumar M. Patel and Orlando Quaranta and Hemant Sharma and Douglas A. Bennett and William B. Doriese and Joseph W. Fowler and Johnathon Gard and James Hays-Wehle and Kelsey M. Morgan and Daniel R. Schmidt and Daniel S. Swetz and Joel N. Ullom},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.02215},
year = {2018}
}