度量正则广义方程：电子电路案例研究

本论文中，考虑使用集值映射来建模二极管和晶体管等半导体的 $i-v$ 特性。利用电路理论定律，得到一个广义方程。论文主要关注研究输入信号的扰动如何影响输出变量。该问题在两种情形下研究：静态情形，其中输入信号为直流源；以及动态情形，其中电路中存在交流源。在静态情形下，问题可归结为解映射的局部稳定性性质（如 Aubin 性质、孤立平静性、平静性）的存在性或缺失，或逆映射的度量正则性。利用变分分析中的一些工具给出保证这些性质的必要和/或充分条件。在动态情形下，那些逐点结果被用于获得函数空间中解轨迹的正则性性质的描述。