具有高速列并行读出功能的CCD中电荷转移无效性的测量
仪器与探测器
2009-11-13 v1
摘要
在过去的二十年中，电荷耦合器件（CCD）已成功用于多个高能物理实验。其高空间分辨率和薄敏感层使其成为研究短寿命粒子的绝佳工具。直线对撞机味鉴别（LCFI）合作组正在为未来的直线对撞机的顶点探测器开发列并行CCD（CPCCD）。CPCCD的读出速度比标准CCD快很多倍，显著提高了其运行速度。已建立了一个用于测量CPCCD原型器件电荷转移无效性（CTI）的测试台。在不同的读出频率和工作温度下对CTI进行了研究。
引用
@article{arxiv.0811.2490,
title = {Measurements of Charge Transfer Inefficiency in a CCD with High-Speed Column Parallel Readout},
author = {Andre Sopczak and Khaled Bekhouche and Chris Damerell and Tim Greenshaw and Michal Koziel and Konstantin Stefanov and Tuomo Tikkanen and Tim Woolliscroft and Steve Worm},
journal= {arXiv preprint arXiv:0811.2490},
year = {2009}
}
备注
6 pages, 17 figures, presented on behalf of the LCFI Collaboration, proceedings IEEE 2008 Nuclear Science Symposium, Dresden, Germany