LSST ITL 传感器中延迟电荷效应的研究
天体物理仪器与方法
2020-01-13 v1
摘要
电荷耦合器件（CCD）中电荷转移低效（CTI）的传统表征存在若干不足：CTI 通常仅针对有限数量的信号电平计算，CTI 由有限数量的像素计算得出，且 CTI 的来源通常假设发生在每一次像素到像素的转移中。在为大型综合巡天望远镜（LSST）相机焦平面所开发的、由 Imaging Technology Laboratory（ITL）制造的 CCD 的初步测试期间，已识别出若干串行 CTI 效应，这促使在传统 CTI 表征之外进行额外研究。本研究描述了一种对串行延迟电荷效应的更细致考察，以充分表征在这些传感器的串行过扫描像素中测得的延迟电荷。结果表明，除了在每次像素转移时发生的比例性 CTI 损失外，ITL CCD 对串行过扫描像素中测得的延迟电荷还有额外贡献，可能由电荷俘获导致的固定 CTI 损失以及高信号下的电子偏移漂移所引起。
引用
@article{arxiv.2001.03223,
title = {Investigation of Deferred Charge Effects in LSST ITL Sensors},
author = {Adam Snyder and Aaron Roodman},
journal= {arXiv preprint arXiv:2001.03223},
year = {2020}
}
备注
12 pages, 7 figures; published in JATIS