普鲁士蓝类似物薄膜中的磁各向异性

通过磁化强度测量、50 GHz和116 GHz的电子自旋共振以及变温X射线衍射，研究了铁磁性材料Rb$_{0.7}$Ni$_{4.0}$[Cr(CN)$_6$]$_{2.9} \cdot n$H$_2$O（$T_c \sim 70$ K）的薄（~ 200 nm）和厚（~ 2 $\mu$m）薄膜以及多晶（直径~ 60 nm）粉末的磁各向异性。磁各向异性响应的起源不能归因于固体支撑物的直接影响，但保持有序二维薄膜的薄膜生长方案是重要的。此外，各向异性并非源于各向异性的g张量，也非源于$T_c$之上和之下的磁晶格变化。通过考虑磁畴和退磁因子的影响，该分析为低场和高场数据提供了合理的描述，从而确定了磁各向异性的起源。