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Si(111)上GaN纳米线中的宏观应变与微观应变

介观与纳米尺度物理 2015-12-10 v1

摘要

我们通过X射线衍射分析了GaN纳米线阵列的应变状态。纳米线通过分子束外延在Si(111)衬底上自组织生长。在宏观尺度上,纳米线是无应变的。然而,纳米线的合并导致了大小为±0.015%\pm 0.015\%±0.03%\pm 0.03\%的微观应变。这种微观应变对低温光致发光谱中观察到的线宽有贡献。

关键词

引用

@article{arxiv.1206.2525,
  title  = {Macro- and micro-strain in GaN nanowires on Si(111)},
  author = {Bernd Jenichen and Oliver Brandt and Carsten Pfueller and Pinar Dogan and Mathias Knelangen and Achim Trampert},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1206.2525},
  year   = {2015}
}