会聚光束的低温远红外椭偏测量
材料科学
2015-06-25 v1
摘要
本文描述了椭偏测量术在相干远红外辐射、低温和微小样品情况下的发展，包括任意波长下会聚光束椭偏测量正问题和逆问题的求解、测量技术以及低温恒温器窗口的补偿取向。给出了实验结果：金薄膜和UBe13单晶在室温下的结果（λ=119微米），SrTiO3的复介电函数的温度依赖性（λ=119、84和28微米），以及YBa2Cu3O7-δ陶瓷的复介电函数的温度依赖性（λ=119微米）。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9805219,
title = {Low-temperature far-infrared ellipsometry of convergent beam},
author = {A. B. Sushkov and E. A. Tishchenko},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9805219},
year = {2015}
}
备注
14 pages, 6 figures