Y1-xCaxBa2Cu3O7-delta薄膜中低温临界电流随空穴含量和氧缺失的变化
超导电性
2009-11-11 v3
摘要
研究了空穴含量（p）和氧缺失（δ）对Y1-xCaxBa2Cu3O7-delta（x=0,0.05,0.10,0.20）高品质c轴取向薄膜零场临界电流密度Jc0的影响。Ca用于在CuO2平面上独立于CuO1-delta链的氧缺失引入空穴载流子。发现这些薄膜在optimal掺杂以上具有较高的低温Jc0(16K)，且主要由空穴浓度决定，达到最大值约为p≈0.185±0.005，无论氧缺失如何。这表明氧杂乱仅起次要作用，固有Jc0主要由载流子浓度及其决定的超导凝聚能决定，而该凝聚能在p≈0.19（准贫乏区无准位隧道关联）处达到最大值。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0503210,
title = {Low-temperature critical current of Y1-xCaxBa2Cu3O7-delta thin films as a function of hole content and oxygen deficiency},
author = {S. H. Naqib and Anita Semwal},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0503210},
year = {2009}
}