D{\O}探测器硅微条径迹探测器的长期运行经验
仪器与探测器
2012-02-28 v1 高能物理 - 实验
摘要
硅微条径迹探测器（SMT）在费米实验室Tevatron对撞机的D{\O}实验中自2001年开始运行。2006年，增加了一层称为“Layer 0”的额外层，以改进碰撞参数分辨率并补偿由于辐射损伤对原始最内层SMT造成的探测器退化。SMT探测器为实验提供了有价值的径迹和顶点信息。本文将重点介绍SMT长期运行的经验，包括硅读出测试台的影响。由于测试台完全集成到D{\O}触发框架中，该测试台为培训新专家和研究SMT中的微妙效应提供了有利工具，同时最小化对全局数据采集的影响。
引用
@article{arxiv.1202.5996,
title = {Long-term Running Experience with the Silicon Micro-strip Tracker at the D{\O} detector},
author = {Andreas W. Jung and M. Cherry and D. Edmunds and M. Johnson and M. Matulik and M. Utes and T. Zmuda and the SMT Group},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.5996},
year = {2012}
}
备注
Proceedings of TIPP 2011 (Technology and Instrumentation for Particle Physics 2011), June 9-14 2011, Chicago, USA