基于单螺旋点扩散函数和深度学习定位轴向密集发射源
光学
2024-03-06 v2
摘要
受激发射损耗显微镜（STED）可实现高达数纳米的空间分辨率。作为一种点扫描成像方法，它需要三维扫描来完成三维样品的成像。在非衍射贝塞尔 - 贝塞尔 STED（BB-STED）中，样品被光针有效激发，耗时的三维扫描可压缩为二维扫描。然而，图像仅是二维投影，即没有真实的轴向分辨率。因此，我们提出了一种方法，利用具有单螺旋点扩散函数（SH-PSF）的检测光路将轴向信息编码到轴向密集发射源中，然后通过深度学习预测发射源的深度。模拟表明，对于深度范围为 4 nm 内密度为 1~20 个发射源的情况，可实现约 35 nm 的轴向精度。我们的方法也适用于实验数据，可实现约 63 nm 的轴向精度。
引用
@article{arxiv.2402.06863,
title = {Localizing axial dense emitters based on single-helix point spread function and deep learning},
author = {Yihong Ji and Danni Chen and Hanzhe Wu and Gan Xiang and Heng Li and Bin Yu and Junle Qu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.06863},
year = {2024}
}