受激发射损耗显微镜的噪声限制分辨率
光学
2012-05-29 v3
摘要
随着显微镜技术的最新发展，例如受激发射损耗(STED)显微镜，分辨率优于衍射极限的远场成像现已成为一种商业上可行的技术。在这里，我们表明，在扩散机制的特殊情况下，STED成像的噪声限制分辨率与荧光标记的饱和强度无关。热运动限制了信号积分时间，对于给定的激发态寿命，这限制了可用于检测的光子总数。
引用
@article{arxiv.0908.1678,
title = {The noise-limited-resolution for stimulated emission depletion microscopy},
author = {Chris J. Lee and Klaus J. Boller},
journal= {arXiv preprint arXiv:0908.1678},
year = {2012}
}
备注
6 pages 2 figures