散粒噪声极限下利用相干态实现确定性超分辨

光场的干涉在各种高精度测量方案中起着重要作用。已有研究表明，通过使用最大纠缠的多粒子光态或采用复杂的探测方法，可以获得超越标准相干态极限的超分辨相位测量。在此，我们展示了无需借助非经典光态或低效率探测过程，即可在散粒噪声极限下实现超分辨相位测量。利用鲁棒的相干光态、高效率零差探测以及确定性二值化处理技术，我们展示了干涉条纹的窄化效应，其缩放比例为 $1/\sqrt{N}$，其中 $N$ 为相干态的平均光子数。实验上，我们在散粒噪声极限下演示了 12 倍的条纹窄化。