具有 0-2$\pi$涡旋相位调制的高孔径 STED 分辨率的解析描述
光学
2015-01-07 v1
摘要
受激发射损耗 (STED) 可实现光学超分辨，其通过抑制荧光焦斑外围来突破光学衍射极限。此前，人们普遍在实验上接受 STED 功率与分辨率之间存在平方根反比关系，但缺乏严格的解析描述。在本文中，我们从矢量光学理论出发，针对广泛使用的 0-2涡旋相位调制，解析验证了 STED 功率与可实现分辨率之间的关系。我们计算并近似了高数值孔径物镜焦区的电磁场为多项式，推导出了分辨率作为 STED 强度函数的解析表达式。结果表明，可以直接通过测量染料的饱和功率和施加的 STED 功率来估算分辨率。
引用
@article{arxiv.1302.1646,
title = {Analytical description of high-aperture STED resolution with 0-2$\pi$ vortex phase modulation},
author = {Hao Xie and Yujia Liu and Dayong Jin and Peng Xi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1302.1646},
year = {2015}
}
备注
(19 pages)