解决单发射体定位显微镜中轴向距离测量的系统误差
光学
2020-07-15 v1 生物物理
摘要
点发射体的纳米级定位对光学荧光显微镜中的若干方法至关重要，包括单分子超分辨成像与追踪。尽管定位过程的精度已被广泛研究，定位准确度却较少受关注，部分原因在于难以制备在相关几何中包含已知三维位置且未受扰动的发射体的实验样品。我们报道了一种新的实验系统，其重现了高数值孔径定位显微镜中广泛采用的几何结构：分子位于玻璃盖玻片上方的水性介质中，以油浸物镜成像。我们展示了一种校准流程，可测量开放孔径成像以及具有折射率失配的工程设计 PSF 成像中的深度依赖点扩散函数（PSF）。我们揭示了该系统中焦平面位置随深度变化的复杂行为，并讨论了由该行为的常见近似所引起的轴向定位偏差。我们将结果与理论计算进行比较。
引用
@article{arxiv.2003.12555,
title = {Addressing systematic errors in axial distance measurements in single-emitter localization microscopy},
author = {Petar N. Petrov and W. E. Moerner},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.12555},
year = {2020}
}
备注
16 pages, 10 figures