有限尺寸光子晶体中简单缺陷的定位与表征

光子晶体等结构化材料若要实现最佳应用，对其组成元件的位置和光学特性均要求极高的精度。在此，我们提出了一种简单的层析算法，该算法基于特定的格林函数及一阶玻恩近似，能够定位并表征有限尺寸光子晶体中的相同缺陷。该算法被提议作为监测此类材料的第一步。 illustrative 数值结果特别展示了超越瑞利判据的聚焦可能性。