晶体缺陷跟踪的微观方法
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
我们表明，基于有效单粒子势能的晶体缺陷微观定义，使得能够检测和可视化各种类型的局部和延展晶体缺陷，并开发出一种有效的算法来跟踪其时间演化。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0212318,
title = {Microscopic Method for Dislocation Tracking},
author = {M. Patriarca and M. Robles and K. Kaski},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0212318},
year = {2007}
}
备注
9 pages, 8 figures