低维电子系统的局域自旋磁化率
介观与纳米尺度物理
2013-08-07 v1
摘要
我们研究、评估并提出了测量导电低维电子系统局域自旋磁化率的可能性。我们设想实验的基本设置是源-探针型。局域诱导的自旋密度（例如通过磁化原子力显微镜针尖）根据其自旋磁化率在介质中扩展。诱导的磁化可以作为偶极磁场被检测到，例如通过基于超灵敏氮-空位中心的探测器，从而可以推断出自旋磁化率的空间结构。我们发现一维系统，如半导体纳米线或碳纳米管，有望产生可测量的信号。二维电子气中的信号较弱，但具有足够高g因子的材料（如InGaAs）似乎有望成功测量。
引用
@article{arxiv.1303.1151,
title = {Local Spin Susceptibilities of Low-Dimensional Electron Systems},
author = {Peter Stano and Jelena Klinovaja and Amir Yacoby and Daniel Loss},
journal= {arXiv preprint arXiv:1303.1151},
year = {2013}
}
备注
11 pages, 12 figures